基于激光跟踪仪的两维平面扫描系统综合参数的测量方法研究

文档名：基于激光跟踪仪的两维平面扫描系统综合参数的测量方法研究
两维平面扫描系统是一种常用于各类相控阵体制天线内场调试的机械装置,具有体积庞大、测试参数众多、不易测量等特点.本文从两维平面扫描系统的主要技术指标入手,提供了一种使用激光跟踪仪测量其各项参数的方法,并对测量过程中影响结果的不确定度分量进行分析.
作者：祝卿陈继刚付裕余华昌潘莹包晓峰
作者单位：上海精密计量测试研究所,上海201109
母体文献：2018年计量测试技术交流会论文集
会议名称：2018年计量测试技术交流会  
会议时间：2018年5月1日
会议地点：天津
主办单位：航空工业第304研究所
语种：chi
分类号：
关键词：相控阵天线  两维平面扫描系统  激光跟踪仪  不确定度
在线出版日期：2021年11月12日
基金项目：
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