故障注入攻击XYZ平台扫描位置可视化交互集成方法研究

文档名：故障注入攻击XYZ平台扫描位置可视化交互集成方法研究
故障注入攻击是目前非常有效的一种芯片安全检测方法,以荷兰Riscure公司产品Inspector为代表的故障注入设备采用的是以人工估算位置的方式对芯片内部的某个精确区域实施攻击,此种方式存在人为引起的误差较大的问题;后续版本中加入了红外摄像头定位的方式,此种方式能够实现芯片内部精确位置的攻击,但在攻击过程中由于芯片对红外线有感应,因此不能保持常开状态.分析Inspector平台底层代码运行原理和过程,提出了一种扫描位置可视化的交互集成方法,在实际的故障注入攻击检测中,可以解决上述问题,实现对芯片内部位置的精确定位.
作者：齐振彬王喆甘杰
作者单位：北京智芯微电子科技有限公司国家电网公司重点实验室电力芯片设计分析实验室,北京100192;北京智芯微电子科技有限公司北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心,北京100192
母体文献：2018电力行业信息化年会论文集
会议名称：2018电力行业信息化年会  
会议时间：2018年9月15日
会议地点：南宁
主办单位：中国电机工程学会
语种：chi
分类号：TP3TN9
关键词：芯片检测  故障注入攻击  扫描位置可视化  交互集成
在线出版日期：2021年7月19日
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