不同添加剂对AgSnO2In2O3触头材料电性能的影响

文档名：不同添加剂对AgSnO2In2O3触头材料电性能的影响
采用内氧化法工艺制备了不含添加剂及分别含添加剂CuO或TeO2的3种AgSnO2In2O3触头材料.应用模拟继电器试验设备检测了这3种材料在AC230V、25A阻性负载条件下的电寿命、熔焊力、电弧能量、燃弧时间、质量侵蚀率等相关电性能参数,并对检测结果及试验后铆钉触头样品进行了分析.研究发现:与不含添加剂的AgSnO2In2O3材料相比,添加剂CuO对材料的电寿命影响不大,而添加剂TeO2明显提高了材料的电寿命;含添加剂的两种材料的熔焊力和电弧能量均有了不同程度的降低,但它们的质量侵蚀率却明显增加.
作者：李耀林 卢菲 陈光明 蒙建洲 黄晶
作者单位：桂林电器科学研究院有限公司,广西桂林541004;桂林金格电工电子材料科技有限公司,广西桂林541004桂林金格电工电子材料科技有限公司,广西桂林541004
母体文献：2021中国高端SMT学术会议论文集
会议名称：2021中国高端SMT学术会议  
会议时间：2021年12月30日
会议地点：重庆
主办单位：中国电子学会,四川省电子学会
语种：chi
分类号：TG1TM5
关键词：银氧化锡氧化铟触头  内氧化法工艺  添加剂  电寿命  熔焊力  电弧能量  质量侵蚀率
在线出版日期：2022年8月26日
基金项目：
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