文档名：纯银触头熔桥行为高速摄像研究
采用自主设计的电接触-高速摄像试验系统,在直流单分断模式下对纯银触头在电接触过程中所发生的熔桥行为进行观测,从而在不同的电流条件下对电接触过程中熔桥的形貌尺寸进行研究,同时通过SEM对电接触熔桥行为作用后纯银触头的表面进行形貌分析.结果表明,在DC10V(8～20A)条件下,纯银触头在电接触过程中形成的熔桥有圆柱型和哑铃型2种形貌,并且其尺寸为微米级;熔桥的直径和长度都随电流的增大而呈现出先减小后增大的趋势,10～15A范围内纯银触头在电接触过程中不易形成熔桥,电接触过程中电弧可能先于熔桥而产生,并且熔桥和电弧现象可以同时存在.
作者：陈静洪陈松谢明王塞北胡洁琼王松张吉明陈永泰
作者单位：昆明贵金属研究所稀贵金属综合利用新技术国家重点实验室,昆明650106
母体文献：2016年中国贵金属论坛论文集
会议名称：2016年中国贵金属论坛
会议时间：2016年12月1日
会议地点：云南腾冲
主办单位：中国有色金属学会,中国有色金属工业协会,昆明贵金属研究所
语种：chi
分类号：
关键词：纯银触头 电接触过程 熔桥行为 高速摄像
在线出版日期：2017年11月24日
基金项目：
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