电连接器在温度振动综合应力下的瞬态断路失效机理分析

文档名：电连接器在温度振动综合应力下的瞬态断路失效机理分析
电连接器的瞬态断路失效备受关注,本文分析了电连接器的接触退化和瞬态断路的主要影响因素,振动和温度是导致瞬态断路的主要应力.本文对J599Ⅲ型电连接器开展多组温度振动综合应力寿命试验,有效地激发了瞬态断路.经失效分析,发现样品的失效原因为镀层在长期温度和振动应力下,接触对微动磨损导致镀层氧化和表面破损起皮,同时发现连接的插针与工程塑料在长期振动过程中使得插针上覆盖了绝缘性粉尘,导致了瞬态断路.
作者：杨少华 黄敏敏
作者单位：工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及应用技术重点实验室,广州510610中国工程物理研究院电子工程研究所,绵阳,621002
母体文献：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会论文集
会议名称：中国电子学会可靠性分会第二十届可靠性物理年会  
会议时间：2018年10月1日
会议地点：广州
主办单位：中国电子学会
语种：chi
分类号：TV3TV6
关键词：电连接器  温度参数  振动作用  综合应力  接触退化  瞬态断路
在线出版日期：2021年12月15日
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2024-12-9 20:49 上传 电连接器在温度振动综合应力下的瞬态断路失效机理分析.pdf

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