正电子致电离截面实验中束流强度的在线测量

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本文采用HPGe探测器实时收集了正电子碰撞厚Ti靶伴随产生的湮灭光子,并结合HPGe探测器对放置在碰撞点处22Na标准源产生的511keV湮灭光子的探测效率刻度值,得到了8～9.5keV正电子引起Ti原子内壳层电离截面实验中正电子束流强度的实时测量结果.结果表明,在实验测量的38h内,基于22Na标准源慢正电子束流装置产生的正电子束流强度不稳定,随时间的变化有着不同程度的衰减,且存在小幅度波动现象.因此,低能正电子致原子内壳层电离截面实验中应采用在线法获取慢正电子束流强度.
作者：蓝文鸿吴英杜永琪刘泽坤李臻高峰
作者单位：华北电力大学核科学与工程学院,北京102206
母体文献：第一届全国空间核动力学术会议论文集
会议名称：第一届全国空间核动力学术会议  
会议时间：2018年4月3日
会议地点：西安
主办单位：国防科技工业核材料技术创新中心,国家同位素工程技术研究中心,中国核工业集团公司空间核动力技术重点实验室
语种：chi
分类号：
关键词：高纯锗探测器  正电子束流强度  在线测量  正电子湮灭  原子内壳层电离截面
在线出版日期：2021年11月24日
基金项目：
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2024-12-3 22:54 上传 正电子致电离截面实验中束流强度的在线测量.pdf

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