一种原位透射电镜样品制备的新方法.pdf
透射电子显微镜(TEM)是地球科学研究进入纳米尺度的关键仪器,透射电镜高分辨像与电子衍射是研究矿物晶体结构的重要手段之一,同时配合其他附件还可获得纳米尺度下矿物的元素组成、空间分布以及价态信息等.随着TEM样品制备手段的不断发展,TEM在研究微纳尺度矿物晶体结构、元素赋存状态、微区元素分布等方面已得到广泛关注.本文基于聚焦离子束和超薄切片法，开发了一种制备TEM超薄样品的新方法。本方法可原位提取感兴趣矿物颗粒，获得该颗粒的一系列的超薄切片，并且薄片表面不会引入上述污染。
作者：莫冰 李阳 徐于晨 李瑞 李雄耀
作者单位：中国科学院大学,北京100049;中国科学院地球化学研究所,贵阳550081中国科学院地球化学研究所,贵阳550081中国科学院地质与地球物理研究所,北京100029
母体文献：第十四届全国矿床会议论文集
会议名称：第十四届全国矿床会议
会议时间：2018年10月19日
会议地点：石家庄
主办单位：中国地质学会,中国矿物岩石地球化学学会
语种：chi
分类号：TG1
关键词：岩石矿物样品 聚焦离子束 超薄切片法 透射电子显微镜
在线出版日期：2021年9月26日
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