相控阵聚焦方法对缺陷成像效果的影响

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超声相控阵传统的扫查方式是在被检测区域中一点进行聚焦,因此缺陷成像会受到聚焦位置的影响.而全聚焦实现了在被检测区域中各个点进行虚拟聚焦,提供了更高精度和更广范围的成像.本文通过M2M超声激励接收仪采集信号,使用32阵元的相控阵探头分别对B型标准试块和钢轨进行检测,实现了线性扫描、扇形扫描和全聚焦成像.并比对了不同聚焦方法对约3/5倍波长的小缺陷和约2倍波长的大缺陷成像效果的影响.结果表明,与相控阵传统的扫查方式相比,全聚焦成像对于小缺陷成像效果最优;对于大缺陷,在横轴方向缺陷成像可能小于实际缺陷大小,但总的分辨率优于传统的相控阵扫查.
作者：朱文发 徐梦云 范国鹏 张海燕
作者单位：上海工程技术大学,上海201620;上海大学,上海200444上海大学,上海200444
母体文献：2017年西安-上海声学学会第五届声学学术会议论文集
会议名称：2017年西安-上海声学学会第五届声学学术会议  
会议时间：2017年12月1日
会议地点：西安
主办单位：西安市声学学会,上海市声学学会
语种：chi
分类号：TG1TP2
关键词：超声相控阵  缺陷检测  聚焦方法  成像效果
在线出版日期：2020年11月30日
基金项目：
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