双能CT技术及能谱估计算法研究.pdf
双能X射线计算机断层成像技术(DECT)能够准确的重建物质的有效原子序数和电子密度,是目前安检行业一种有效的物质辨别技术.X射线能谱估计在双能CT成像技术中起着重要作用.本文介绍了双能CT重建原理,基于最常用的透射数据估计法,重点研究基于CT图像重投影技术的能谱校正法.选用含有两种已知材质的均匀圆柱状模体,以蒙特卡罗模拟的能谱作为初值,运用最大期望算法(EM)校正X射线能谱分布.此方法提高了双能CT重建算法的精度.
作者：陈丽媛李斌李永清
作者单位：公安部第一研究所安检事业部,北京,102200
母体文献：第二届射线成像新技术及应用研讨会论文集
会议名称：第二届射线成像新技术及应用研讨会
会议时间：2018年11月2日
会议地点：合肥
主办单位：中国光学工程学会,国家自然科学基金委
语种：chi
分类号：
关键词：双能X射线计算机断层成像 能谱估计 透射数据估计法 能谱校正
在线出版日期：2021年9月13日
基金项目：
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