基于多方向小波提升IRFPA盲元检测精度方法

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红外焦平面成像质量受材料生长及器件制备工艺的影响,易出现盲元缺陷.精准的盲元检测是对于后续的红外图像处理有重要的意义,但固定条纹噪声的存在经常会导致盲元的检测偏差.本文利用复数小波分解的高频小波系数进行阈值去噪,将去噪的小波系数重构以消除条纹噪声对盲元检测的影响,再采用3σ准则进行盲元检测.经HgCdTe红外焦平面成像验证,本方法对具有固定条纹噪声的红外图像盲元检测更加精准.
作者：张瞳 陈洪雷 周松敏 林春
作者单位：中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室,上海200083;中国科学院大学,北京100049中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室,上海200083
母体文献：2017年光学技术研讨会暨交叉学科论坛论文集
会议名称：2017年光学技术研讨会暨交叉学科论坛  
会议时间：2017年9月20日
会议地点：昆明
主办单位：上海市红外与遥感学会,云南省光学学会
语种：chi
分类号：
关键词：红外焦平面成像  图像处理  盲元检测  固定条纹噪声  小波系数
在线出版日期：2020年6月28日
基金项目：
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2024-12-1 20:11 上传 基于多方向小波提升IRFPA盲元检测精度方法.pdf

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