含氧化镁系列矿产品的X荧光定量分析方法

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本方法采用无水四硼酸锂熔样,制得重现性良好的玻璃熔片,使用数学方法校正元素之间的干扰效应.X射线荧光光谱法是分析出口含氧化镁系列矿物产品的有效方法,较其它化学法测定速度快且重复性好.
作者：盛向军 褚宁 陈新
作者单位：辽宁出入境检验检疫局辽宁大连116001鲅鱼圈出入境检验检疫局辽宁营口115007
母体文献：2017年全国质检系统X射线分析技术学术研讨会论文集
会议名称：2017年全国质检系统X射线分析技术学术研讨会  
会议时间：2017年5月1日
会议地点：广州
主办单位：广东出入境检验检疫局
语种：chi
分类号：
关键词：含氧化镁矿产品  杂质含量  X射线荧光光谱法  误差校正
在线出版日期：2021年3月22日
基金项目：
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2024-12-1 20:02 上传 含氧化镁系列矿产品的X荧光定量分析方法.pdf

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