X射线荧光光谱法测定重晶石中的钡、锶、铁、铝、硅

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采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法测定重晶石中钡、锶、铁、铝、硅.采用理论α系数和经验系数相结合的方法校正元素间的基体效应.测定重晶石试样各组分的相对标准偏差(RSD,n=12)均小于5.5％,结果与化学分析法吻合.
作者：刘益锋田琼杨树洁吕善胜林海刘中勇
作者单位：湛江出入境检验检疫局广东湛江524022
母体文献：2017年全国质检系统X射线分析技术学术研讨会论文集
会议名称：2017年全国质检系统X射线分析技术学术研讨会  
会议时间：2017年5月1日
会议地点：广州
主办单位：广东出入境检验检疫局
语种：chi
分类号：
关键词：重晶石  化学成分  X射线荧光光谱法  相对标准偏差
在线出版日期：2021年3月22日
基金项目：
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2024-12-1 19:27 上传 X射线荧光光谱法测定重晶石中的钡、锶、铁、铝、硅.pdf

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