高纯锗γ谱仪点源探测效率的蒙卡模拟计算

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利用X光机透射成像获得了高纯锗探测器精确几何尺寸,在此基础上了用蒙特卡洛计算软件MCNP5C建立了点源模拟的物理模型.通过与实验测量对比,确定了探测器死层厚度.模拟计算了88～1408keV能量范围内的10个能量点的点源探测效率,与实验值偏差在0.1％～3.9％内,均方根差为1.7％,模拟计算结果满意.
作者：吴永乐
作者单位：环境保护部核与辐射安全中心,北京100082
母体文献：环境保护部核与辐射安全中心第五届学术交流会论文集
会议名称：环境保护部核与辐射安全中心第五届学术交流会  
会议时间：2015年10月19日
会议地点：北京
主办单位：环境保护部核与辐射安全中心
语种：chi
分类号：R14TL8
关键词：辐射环境监测  高纯锗γ谱仪  探测效率  蒙特卡洛模拟
在线出版日期：2019年1月18日
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2024-11-30 22:37 上传 高纯锗γ谱仪点源探测效率的蒙卡模拟计算.pdf

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