某设备典型功能的BIT设计分析.pdf
设备测试性设计的目标是对设备进行性能监测、故障检测、故障隔离、虚警抑制等,使设备能及时、准确地反应其状态信息,其中BIT设计是目前设备测试性设计的主要内容.本文主要介绍了系统测试性设计方法及某设备典型功能电路BIT设计原理,为设备在研制阶段的测试性设计提供参考.
作者：孙思琦王春辉吴栋雷东鹏
作者单位：工业和信息化部电子第五研究所,广州510610;广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室,广州510610
母体文献：2019年环境技术研讨会论文集
会议名称：2019年环境技术研讨会
会议时间：2019年9月27日
会议地点：青岛
主办单位：环境技术杂志社
语种：chi
分类号：
关键词：武器装备 测试性设计 故障诊断 虚警率
在线出版日期：2020年7月9日
基金项目：
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