DB35_T 1248-2012 电子工业用锗烷气体中杂质含量的测定 气相色谱法

主要技术内容：本标准规定了用气相色谱法测定电子工业用锗烷气体中杂质含量的方法。 本标准适用于电子工业用锗烷气体中氢、氧（氩）、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳含量的测定。 各杂质组分的检测限：氢：0.02 μmol/mol、氧（氩）：0.01 μmol/mol、氮：0.01μmol/mol、甲烷：0.005 μmol/mol、一氧化碳：0.02 μmol/mol、二氧化碳：0.005μmol/mol；各杂质组分检测线性范围：氢、氧（氩）、氮≤1000μmol/mol，甲烷、一氧化碳、二氧化碳≤2000μmol/mol。
起草单位：国家化学工业气体产品质量监督检验中心（福建）
起草人：林宇巍、陈熔、陈华、邹震、林永荣、张凤利、陈小娟、叶树海、郑江琳

中文标题：电子工业用锗烷气体中杂质含量的测定 气相色谱法
标准号：DB35/T1248-2012
发布日期：2012-05-04
实施日期：2012-08-05
制修订：制定
中国标准分类号：G86
国际标准分类号：71.040.40
技术归口：福建省化学工业气体标准化技术委员会
批准发布部门：福建省质量技术监督局
行业分类：制造业
标准类别：方法标准

按地区分类：福建省
按国民经济行业分类：C 制造业

关键词：DB35/T,福建省化学工业气体标准化技术委员会,制造业,杂质,气体,电子工业

文件名：DB35_T 1248-2012 电子工业用锗烷气体中杂质含量的测定 气相色谱法.pdf

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