T_CSTM 00162-2020 透射电子显微镜校准方法

标准编号：T/CSTM00162—2020
中文标题：透射电子显微镜校准方法
英文标题：Calibrationmethodsfortransmissionelectronmicroscope
国际标准分类号：17.020
中国标准分类号：A50
国民经济分类：M745质检技术服务
发布日期：2020年03月23日
实施日期：2020年06月23日
起草人：李旭、任玲玲、张毅、梁霄鹏、雷前、刘伟丽、范文浩、刘哲、刘渊、关波、齐笑迎、苏春华、张瑞芳、孙威
起草单位：中国计量科学研究院、河南科技大学、中南大学、北京市理化分析测试中心、国家石墨烯产品质量监督检验中心（江苏）、中国科学院化学研究所、国家纳米科学中心、深圳市电源技术学会、深圳石墨烯创新中心有限公司
范围：
主要技术内容：本部分规定了透射电镜校准方法的术语和定义、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、测量结果不确定度评定、校准结果表达和复校时间间隔。本标准适用于透射电镜放大倍率、样品污染率和样品漂移率的校准。

关键词：中关村材料试验技术联盟,T/CSTM,质检技术服务,电子显微镜,方法

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2024-9-29 22:46 上传 T_CSTM 00162-2020 透射电子显微镜校准方法.pdf

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