T_CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析（FMMEA）通用方法和程序

标准编号：T/CIE115—2021
中文标题：电子元器件失效机理、模式及影响分析（FMMEA）通用方法和程序
英文标题：
国际标准分类号：31.080.01半导体器分立件综合
中国标准分类号：
国民经济分类：C397电子器件制造
发布日期：2021年11月22日
实施日期：2022年02月01日
起草人：来萍、陈媛、何小琦、路国光、黄云、恩云飞、林罡、黄洪钟、米金华
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所、电子科技大学
范围：
主要技术内容：本文件是针对元器件级的失效模式及影响分析，是对系统及整机级的FMEA标准的有效补充，可保证元器件制造和应用方了解和掌握影响元器件可靠性的主要失效机理、模式及原因，并预先采取有效的预防措施；支撑元器件的可靠性设计、生产工艺控制以及整机用户的可靠性应用。

关键词：中国电子学会,T/CIE,电子器件制造,机理,电子元器件,模式

T_CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析（FMMEA）通用方法和程序.pdf

2024-9-29 15:06 上传 T_CIE 115-2021 电子元器件失效机理、模式及影响分析（FMMEA）通用方法和程序.pdf

文件大小:

498.21 KB

下载次数:

60

高速下载