GBT 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
MeasurementproceduresforsemiconductorX-raydetectorsystemandsemiconductorX-rayenergyspectrometers

摘要:本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。

标准编号：GB/T11685-2003
标准类型：CF
发布单位：CN-GB
发布日期：2003年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2004年1月1日
关键词：符号,测量,光谱学,定义,半导体器件,能谱仪,X射线仪,放射源,symbols,spectroscopy,measurement,radioactivesources,definitions,definition,measuring,definitionsdesignation,measurements,x-rayapparatus,semiconductordevices

GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法.pdf

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