GBT 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析

微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析
Microbeamanalysis.Electronprobemicroanalysis.QuantitativepointanalysisforbulkspecimenusingwavelengthdispersiveX-rayspectroscopy

摘要:本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS）,通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。内容包括：——定量分析原理；——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围；——仪器的一般要求；——有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。本标准适用于电子束垂直入射，要求定量分析的试块试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。

标准编号：GB/T28634-2012
标准类型：
发布单位：CN-GB
发布日期：2012年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2013年1月1日
关键词：电子设备及元件,探针,显微分析,电子透镜,电子束,显微镜,ELECTRONICEQUIPMENTANDCOMPONENTS,PROBES,MICROSCOPICANALYSIS,ELECTRONLENSES,ELECTRONBEAMS,ELECTRONBEAM,MICROSCOPES

GB/T 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析.pdf

2024-9-26 16:12 上传 GBT 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析.pdf

文件大小:

484.04 KB

下载次数:

60

高速下载