新资汇»首页 › 标准 › 国家标准 › GBT 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12 ...

[电子元器件与信息技术] GBT 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

32 0

admin 发表于 2024-9-26 14:29 | 查看全部阅读模式

半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动
Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part12:Vibration,variablefrequency

摘要:本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T2423.10—2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

标准编号：GB/T4937.12-2018
标准类型：GB
发布单位：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2019年1月1日
关键词：

GB/T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动.pdf

2024-9-26 14:29 上传

GBT 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动.pdf

文件大小:: 309.55 KB

下载次数:: 60

高速下载

振动, 气候, 半导体器件, 机械

【温馨提示】您好！以下是下载说明，请您仔细阅读：
1、推荐使用360安全浏览器访问本站，选择您所需的PDF文档，点击页面下方“本地下载”按钮。
2、耐心等待两秒钟，系统将自动开始下载，本站文件均为高速下载。
3、下载完成后，请查看您浏览器的下载文件夹，找到对应的PDF文件。
4、使用PDF阅读器打开文档，开始阅读学习。
5、使用过程中遇到问题，请联系QQ客服。

本站提供的所有PDF文档、软件、资料等均为网友上传或网络收集，仅供学习和研究使用，不得用于任何商业用途。
本站尊重知识产权，若本站内容侵犯了您的权益，请及时通知我们，我们将尽快予以删除。

[电子元器件与信息技术] GBT 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

相关帖子

能源电力

化工

建筑工程

机械

电子信息

医药

科学

[电子元器件与信息技术] GBT 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

相关帖子

能源电力

化工

建筑工程

机械

电子信息

医药

科学

[电子元器件与信息技术] GBT 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动