SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法

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admin 发表于 2024-9-26 12:28 | 查看全部阅读模式

半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
Methodofmeasurementforpulseriseandfalltimeofsemiconductorphotodiodesandphototransistors

摘要:本标准适用于光敏二、三极管脉冲上升、下降时间t(r)、t(f)的测试。

标准编号：SJ2214.9-1982
标准类型：
发布单位：CN-SJ
发布日期：1982年1月1日
强制性标准：是
实施日期：1983年1月1日
关键词：半导体,光敏二极管,光敏三极管,脉冲上升,脉冲下降,时间,测试方法

SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法.pdf

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半导体, 脉冲, 下降, 测试, 时间

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