SJT 10457-1993 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则

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admin 发表于 2024-9-26 11:06 | 查看全部阅读模式

俄歇电子能谱术深度剖析标准导则
Standardguidefordepthprofilingaugerelectronspectroscopy

摘要:本标准导则适用于采用磨角与截面法、球抗法、离子测射法、非破坏性深度剖析法进行俄歇电子能谱术尝试剖析。本标准导则可能涉及有害的物品、操作及设备。但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前，应该制定适当的安全与保健措施，并确定本导则的范围。

标准编号：SJ/T10457-1993
标准类型：
发布单位：CN-SJ
发布日期：1993年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1994年1月1日
关键词：俄歇电子能谱术,深度剖析,表面分析

SJ/T 10457-1993 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则.pdf

2024-9-26 11:06 上传

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电子, 剖析, 深度

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