SJT 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
StandardguideforspecimenhandlinginaugerelectronspectroscopyandX-rayphotoelectronspectroscopy

摘要:本标准导则适用于俄歇电子能谱术(AES)和X射线光电子能谱术(XPS)，也适用于其他表面灵敏分析技术。本标准导则可能涉及有害的操作、设备及物质，但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前，应该制定适当的安全与保健措施，并确定本导则的应用范围。

标准编号：SJ/T10458-1993
标准类型：
发布单位：CN-SJ
发布日期：1993年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1994年1月1日
关键词：样品处理,表面分析,俄歇电子能谱术,X射线光电子

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