一种基于FDR编码测试压缩高效的扫描树结构 - 第七届中国测试学术会议.pdf
<p>论文《一种基于FDR编码测试压缩高效的扫描树结构》提出了一种改进的扫描树结构，通过FDR编码技术实现测试数据的高效压缩。该方法在保证测试覆盖率的同时，显著减少了测试数据量和测试时间，提高了测试效率。适用于数字集成电路的测试领域，对降低测试成本具有重要意义。</p>文档为pdf格式，1.15MB，总共4页。</br>
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