admin 发表于 2025-1-1 23:13

YDT 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端


YDT 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端
页: [1]
查看完整版本: YDT 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端