会议论文《边界扫描技术在测试BS-NBS结构电路上的应用》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了边界扫描技术在BS-NBS结构电路中的具体应用。文章分析了该技术如何提高电路测试效率和可靠性，为复杂电路的故障诊断提供了有效方法。研究对推动我国测试技术的发展具有重要意义。
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