会议论文《边界扫描技术在复杂电路缺陷检测中的应用》发表于2008年中国电子制造技术论坛。文章探讨了边界扫描技术（JTAG）在现代复杂电路板缺陷检测中的实际应用，分析了其在提高测试效率和诊断精度方面的优势。通过具体案例，作者展示了该技术在电路故障定位与验证中的重要作用，为电子制造领域的质量控制提供了有效解决方案。
文档为pdf格式，0.35MB，总共6页。
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