会议论文《超大规模集成电路测试开发技术及流程》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了当前超大规模集成电路测试中的关键技术与开发流程。文章分析了测试方法的创新与优化，提出了提高测试效率和准确性的策略，对集成电路设计与制造具有重要指导意义。
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