会议论文《设备加速贮存试验方法探讨与应用》由中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会发表，主要探讨了加速贮存试验在设备可靠性评估中的应用方法。文章分析了影响试验结果的关键因素，提出了优化试验设计的建议，旨在提高设备寿命预测的准确性。该研究对电子产品的质量控制和可靠性提升具有重要参考价值。
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