会议论文《电子设备加速寿命试验优化设计方法研究》由中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会发表。该文探讨了如何通过优化设计提高电子设备加速寿命试验的效率与准确性，提出了一套科学合理的试验方案，以缩短产品可靠性评估周期，降低试验成本，为电子产品的质量控制和可靠性提升提供了理论支持和技术参考。
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