标准单元库设计关键技术研究 - 第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08).pdf

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2026-1-12 14:54 | 查看全部 阅读模式

会议论文《标准单元库设计关键技术研究》发表于第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08),主要探讨了标准单元库在集成电路设计中的核心问题。文章分析了标准单元的布局优化、时序约束及功耗控制等关键技术,提出了改进设计方法,以提高芯片性能和可靠性。该研究对提升我国在集成电路领域的自主创新能力具有重要意义。

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标准单元库设计关键技术研究 - 第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08)
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