会议论文《利用穿透式外差干涉术量测扭曲向列相液晶盒的扭曲角、预倾角和盒厚》介绍了采用穿透式外差干涉技术对液晶盒的关键参数进行精确测量。该方法通过分析干涉图像，能够同时获取扭曲角、预倾角及盒厚等重要参数，为液晶显示器件的性能优化提供了有效手段。
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