T_CSTM 00910-2022 高频介质基板的介电常数和介质损耗角正切测试方法 带状线测试法

标准编号：T/CSTM00910—2022
中文标题：高频介质基板的介电常数和介质损耗角正切测试方法带状线测试法
英文标题：Testmethodfordielectricconstantanddielectriclosstangentofhigh-frequencydielectricsubstrate－Striplinetestmethod
国际标准分类号：31.180
中国标准分类号：L30
国民经济分类：C398电子元件及电子专用材料制造
发布日期：2022年12月27日
实施日期：2023年03月27日
起草人：何骁，肖美珍，陈泽坚，贺光辉，周亮，余承勇，朱辉，李恩，邵伟恒，孙朝宁，王峰，王玉，魏新启，董辉，任英杰，卢悦群，葛鹰，蒋文，于淑会，罗道军。
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、电子科技大学、成都恩驰微波科技有限公司、浙江华正新材料股份有限公司、广东生益科技股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、泰州旺灵绝缘材料厂、深圳先进电子材料国际创新研究院。
范围：本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的带状线测试方法，包括原理、环境条件、材料、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。本文件适用于测试高频介质基板及介电材料在微波频率范围内的介电常数和介质损耗角正切。频率测试范围：f=1GHz~40GHz；介电常数测试范围：ε_r^'=2.0~20.0；损耗角正切值测试范围：tan?〖δ_ε〗?〖=2.0×10^(-4)~1.0×10^(-2)〗；温度测试范围：-50℃~150℃。
主要技术内容：本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的带状线测试方法，包括原理、环境条件、材料、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。本文件适用于测试高频介质基板及介电材料在微波频率范围内的介电常数和介质损耗角正切。频率测试范围：f=1GHz~40GHz；介电常数测试范围：ε_r^'=2.0~20.0；损耗角正切值测试范围：tan?〖δ_ε〗?〖=2.0×10^(-4)~1.0×10^(-2)〗；温度测试范围：-50℃~150℃。

关键词：中关村材料试验技术联盟,T/CSTM,电子元件及电子专用材料制造,介质,正切,测试

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