YHFT-DX测试芯片模拟验证中的片上测试模块设计 - 第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛.pdf
<p>本文介绍了YHFT-DX测试芯片中片上测试模块的设计与模拟验证。该模块旨在提高芯片测试效率和可靠性，通过集成多种测试功能实现对芯片的全面检测。文章详细描述了模块的结构与工作原理，并通过仿真验证其有效性，为后续芯片开发提供了重要参考。</p>文档为pdf格式，1.15MB，总共4页。</br>
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