片上信号完整性研究与测试 - 第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛.pdf
<p>论文《片上信号完整性研究与测试》探讨了随着微处理器性能提升，片上信号完整性问题日益突出。文章分析了影响信号完整性的因素，提出了有效的测试方法和优化策略，为提高芯片可靠性和性能提供了理论支持和技术参考。该文发表于第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛，具有重要的学术价值和应用意义。</p>文档为pdf格式，1.1MB，总共4页。</br>
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