知识辅助的APR非均匀样本检测方法 - 综合电子系统技术教育部重点实验室暨四川省高密度集成器件工程技术研究中心2012学术年会.pdf
<p>该论文提出一种知识辅助的APR非均匀样本检测方法，旨在提高自动程序修复（APR）中非均匀样本的检测效率。通过引入领域知识，优化样本选择策略，提升检测精度与可靠性。研究结合了电子系统技术与高密度集成器件工程的最新成果，为软件缺陷检测提供了新的思路。</p>文档为pdf格式，1.05MB，总共5页。</br>
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