鼎新革故应用炉前AOI控制质量 - 2012中国高端SMT学术会议.pdf
<p>论文《鼎新革故应用炉前AOI控制质量》发表于2012年中国高端SMT学术会议,主要探讨了在SMT生产过程中如何利用炉前AOI(自动光学检测)技术提升产品质量。文章提出通过优化检测流程和参数设置,实现对贴片质量的实时监控,有效减少后续工序中的缺陷率,提高生产效率与产品可靠性。</p>文档为pdf格式,0.54MB,总共4页。</br>
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