面向模拟IC测试的数字化仪的误差分析与校正 - 四川省电子学会半导体与集成技术专委会2012年度学术年会.pdf
<p>论文《面向模拟IC测试的数字化仪的误差分析与校正》探讨了在模拟集成电路测试中，数字化仪存在的主要误差来源及其校正方法。文章分析了量化误差、非线性误差和时钟抖动等对测试结果的影响，并提出了相应的校正策略，以提高测试精度和可靠性。该研究对于提升模拟IC测试的准确性具有重要意义，为相关领域的技术发展提供了理论支持。</p>文档为pdf格式，0.78MB，总共6页。</br>
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