非均匀采样数据驱动的快速率残差产生器直接设计方法 - 第23届过程控制会议.pdf
<p>论文《非均匀采样数据驱动的快速率残差产生器直接设计方法》提出了一种基于非均匀采样数据的残差生成器设计方法，适用于过程控制领域。该方法通过直接利用非均匀采样数据，提高了残差生成的效率和准确性，有助于实现更快的故障检测与诊断。研究在第23届过程控制会议上发表，为工业过程监控提供了新的思路和技术支持。</p>文档为pdf格式，0.45MB，总共7页。</br>
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