GBT 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法.pdf
<h3>一、基本信息</h3><p>文档名称：GBT 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法</p>
<p>文档格式：pdf格式</p>
<p>文档大小：0.75MB</p>
<p>总页数：3页</p>
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<h3>二、简介</h3>
<p>《GBT 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法》是中国国家标准，规定了在低温条件下测定晶体材料透射率的试验方法。该标准适用于光学晶体在低温环境下的光学性能测试，为材料在极端温度条件下的应用提供了科学依据。试验方法主要包括样品制备、温度控制、光源选择及透射率测量等步骤，确保测试结果的准确性与可重复性。该标准对科研和工业生产中的材料性能评估具有重要指导意义。</p>
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<h3>三、预览</h3>
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