GBZ 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜）.pdf
<h3>一、基本信息</h3><p>文档名称：GBZ 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜）</p>
<p>文档格式：pdf格式</p>
<p>文档大小：0.23MB</p>
<p>总页数：6页</p>
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<h3>二、简介</h3>
<p>《GBZ 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法(扫描隧道显微镜）》是一项关于分子在石墨表面吸附结构测试的国家标准。该标准主要规定了利用扫描隧道显微镜（STM）对八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面上的吸附行为和结构进行观察与分析的方法。通过该方法，可以获取分子在纳米尺度上的排列状态、取向及相互作用信息，为分子电子学、表面化学和纳米材料研究提供重要数据支持。本标准适用于相关科研机构和企业，在分子自组装、功能材料设计等领域具有广泛应用价值。</p>
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<h3>三、预览</h3>
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