T_CSP 13—2024_颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法.pdf
<h3>一、基本信息</h3><p>文档名称：T_CSP 13—2024_颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法</p>
<p>文档格式：pdf格式</p>
<p>文档大小：0.71MB</p>
<p>总页数：12页</p>
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<h3>二、简介</h3>
<p>《T_CSP 13—2024 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法》是一项关于微纳米颗粒异质结构分析的技术标准。该标准规定了利用透射电子显微镜（TEM）对微纳米材料的异质结构进行表征的方法和要求。通过该方法，可以精确观察和分析材料的微观结构、界面特征及元素分布情况。该标准适用于科研机构、高校及企业，在材料科学、纳米技术及相关领域中具有重要应用价值。</p>
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<h3>三、预览</h3>
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