基于DOE的铁氧体隔离器衰减片点锡焊接工艺优化
文档名：基于DOE的铁氧体隔离器衰减片点锡焊接工艺优化
摘要：铁氧体隔离器作为一种大量应用于5G通讯基站的通讯元器件,其可靠性关系到基站整机运行的持续性与稳定性,而隔离器的衰减片存在的焊接空洞问题可能导致隔离器在再流焊过程中发生失效,严重时导致基站电路板烧毁,因此管控及降低衰减片焊接空洞率十分重要.首先对铁氧体隔离器的衰减片焊接空洞产生的机理进行分析,并通过实验设计(DesignofExperiment,DOE)对点锡过程中可能导致焊接空洞问题的因素进行了析因分析及点锡工艺的优化.实验结果表明,通过控制点锡轨迹及点锡速度,能显著减少焊接空洞,并明显提升该焊接过程的制程能力,大幅提升了分布参数隔离器的可靠度,降低了隔离器经历再流焊后失效的风险.
作者：吴江张建伟陈禹伽祁志强李小梅何川赵洲柏世问Author：WUJiangZHANGJian-weiCHENYu-jiaQIZhi-qiangLIXiao-meiHEChuanZHAOZhouBAIShi-wen
作者单位：西南应用磁学研究所,四川绵阳621000
刊名：磁性材料及器件 ISTICPKU
Journal：JournalofMagneticMaterialsandDevices
年，卷(期)：2023, 54(2)
分类号：TN627
关键词：隔离器空洞率再流焊焊锡实验设计析因实验田口方法
机标分类号：TG404V261.34TV734.1
在线出版日期：2023年5月5日
基金项目：基于DOE的铁氧体隔离器衰减片点锡焊接工艺优化[
期刊论文]磁性材料及器件--2023, 54(2)吴江张建伟陈禹伽祁志强李小梅何川赵洲柏世问铁氧体隔离器作为一种大量应用于5G通讯基站的通讯元器件,其可靠性关系到基站整机运行的持续性与稳定性,而隔离器的衰减片存在的焊接空洞问题可能导致隔离器在再流焊过程中发生失效,严重时导致基站电路板烧毁,因此管控及...参考文献和引证文献
参考文献
引证文献
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