基于陷阱密度的双向拉伸聚丙烯薄膜耐γ辐照积累剂量阈值评估
文档名：基于陷阱密度的双向拉伸聚丙烯薄膜耐γ辐照积累剂量阈值评估
摘要：聚合物电介质在接受辐照后,电气性能会下降,可能使电气系统在发生电气故障前因电介质劣化而过早地终止使用寿命.以双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜为对象,研究了γ辐照积累剂量对结晶度和陷阱参数的影响规律.依据辐照陷阱产生模型,定义辐照后陷阱密度增加系数ktrap以表征薄膜电气性能劣化程度,并提出了γ辐照积累剂量阈值评估方法.研究结果表明,γ辐照积累剂量超过10kGy时,BOPP薄膜的结晶度显著下降,陷阱深度随辐照积累剂量的增加而增大,陷阱密度随辐照积累剂量的增加呈指数形式增大.根据陷阱密度随辐照积累剂量的分段规律,得到BOPP薄膜劣化的起始辐照积累剂量阈值为10kGy,显著劣化的阈值为80kGy.
作者：王雨橙 李化 王哲豪 林福昌 Author：WangYucheng LiHua WangZhehao LinFuchang
作者单位：强电磁工程与新技术国家重点实验室(华中科技大学)武汉430074强电磁工程与新技术国家重点实验室(华中科技大学)武汉430074;脉冲功率技术教育部重点实验室(华中科技大学)武汉430074
刊名：电工技术学报 ISTICEIPKU
Journal：TransactionsofChinaElectrotechnicalSociety
年，卷(期)：2023, 38(18)
分类号：TM852
关键词：BOPP薄膜γ辐照结晶度陷阱参数阈值评估
Keywords：BOPPfilmγirradiationcrystallinitytrapparametersthresholdevaluation
机标分类号：TQ325.14TM215.3F426.7
在线出版日期：2023年10月10日
基金项目：国家自然科学基金基于陷阱密度的双向拉伸聚丙烯薄膜耐γ辐照积累剂量阈值评估[
期刊论文]电工技术学报--2023, 38(18)王雨橙李化王哲豪林福昌聚合物电介质在接受辐照后,电气性能会下降,可能使电气系统在发生电气故障前因电介质劣化而过早地终止使用寿命.以双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜为对象,研究了γ辐照积累剂量对结晶度和陷阱参数的影响规律.依据辐照陷阱产生...参考文献和引证文献
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