GBT 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法
带电粒子半导体探测器测量方法Testproceduresforsemiconductorchargedparticledetectors
摘要:本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。
标准编号：GB/T5201-2012
标准类型：
发布单位：CN-GB
发布日期：2012年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2012年1月1日
关键词：测量,半导体器件,探测器,粒子辐射,粒子物理学,MEASUREMENTS,MEASUREMENT,MEASURING,SEMICONDUCTORDEVICES,DETECTOR,DETECTORS,PARTICULATERADIATION,PARTICLEPHYSICS
GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法.pdf
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